intelliwave 軟（ruǎn）件(條紋分析軟件)

intelliwave中文（wén）版能（néng）夠很（hěn）好地進行所需的各項自動（dòng）化質量（liàng）檢測，為你帶來相位測量服務，支持幹涉條紋的描繪功（gōng）能，能夠很好地實現光程差的計算，幫助用戶們應用到圖像加工等眾多行業（yè）帶來最佳的（de）使用體驗！

intelliwave 漢化版介紹

Intelliwave是一種功（gōng）能強大的幹涉圖形（xíng）攫取和分析的一套軟件，通常用於量測許多表麵（材料（liào））的（de）外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡（jìng）、半導體芯片、和其它許多反射或不反射的表麵。為了推斷鏡片表麵外（wài）形，Intelliwave需要製造一個光學相位差來獲得幹涉圖形，因為幹涉（shè）條紋圖是幹涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著幹涉圖形的處（chù）理，主要（yào）在於（yú）鑒定待測光學儀器的（de）表麵外型。Intelliwave 結（jié）合了攫取、輸入、分析、以（yǐ）及許多實際幹（gàn）涉圖形文（wén）檔等等特性（xìng），更提供了（le）強（qiáng）大、快速、靈活（huó）性、容易使用、還有（yǒu）廣泛數（shù）據信息的優點（diǎn）。

軟件特色

分析特性

Intelliwave提供一套完整的分析工具，包（bāo）括統計信息、像差、繞射分析（xī）、圖（tú）象加（jiā）工、以及 幾何圖象轉換。 它支持了多樣化幹涉（shè）圖形的處理技術，也可（kě）把幹涉圖轉換成光學相位差（chà）(OPD)或表麵圖（surface map），Intelliwave還具有處理實時信（xìn）息及對有雜訊的信息作有效處（chù）理。

功能介（jiè）紹

使用範圍（wéi）

光學（xué）統（tǒng）的動態控製

全像攝影

極溫度（dù）（ Extreme Temperature）的應用

天文上的應用（yòng） : 天（tiān）文鏡片（piàn）、天文望遠鏡

對於非球狀光（guāng）學結構有高分辨率

在（zài）半導體上的應用

高功率激光的外型和反射特性（xìng）的量測（cè）

光學量測